基于LabVIEW的电容近炸引信综合参数测试系统的研究
2011/7/6 11:08:00
0 引言电容近炸引信的信号处理电路动态性能参数测试系统是采用 Lab VIEW6.0开发平台开发的程序、NI公司的 PCI60 2 4E数据采集卡、RDR(引信信号处理电路 )所组成的系统。该系统能模拟接近目标的检波信号 ,通过 PCI60 2 4E传送到 RDR,同时监测引信电路控制台内部的各主要电路
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